Diesmal ist der
IVAM-Stammtisch zu Besuch bei der
Bruker Nano GmbH in Karlsruhe. Lernen Sie am 11. Oktober mit uns das Leistungsportfolio des Unternehmens kennen und knüpfen Sie neue Kontakte mit IVAM-Mitgliedern. Selbstverständlich sind auch Interessierte willkommen, die noch keine IVAM-Mitglieder sind – lernen Sie die Vorteile kennen, die mit einer
IVAM-Mitgliedschaft verbunden sind!
12:45 „Meet & greet“
13:00 Grußworte
IVAM Fachverband für Mikrotechnik & Bruker Nano GmbH
Inga Goltermann, IVAM Fachverband für Mikrotechnik
Thomas Klein, Bruker Nano GmbH
13:20 „Berührungslos messen -
Optische 3D-Profilometrie für die Mikrotechnik“
Udo Volz, Senior Metrology-Application Manager Germany,
Bruker Nano GmbH
Mit der berührungslosen, dreidimensionalen Weißlicht-Interferometrie lassen sich Topographie und Rauheit von Oberflächen messen und deren Form quantitativ beurteilen. Diese schnelle, hochpräzise Messmethode eignet sich besonders für die Entwicklung und Qualitäts sicherung in der Mikrotechnik. Ihr Anwendungsspektrum umfaßt viele Aspekte der Mikromechanik, Mikrosensorik, Mikrooptik und Mikrofluidik.
13:50 „Nanoverschleiß -
Gleitverschleißbetrachtung bei realitätsnahen Verschleißraten
auf mikroskopischer Ebene zur Abschätzung der
Lebensdauer“
Markus Grebe, Laborbetriebsleiter,
Kompetenz Zentrum Tribologie der Hochschule Mannheim
Bei Reibungs- und Verschleißuntersuchungen werden meist Kurzzeittests Angestrebt. Um messbare Verschleißraten zu erzeugen, wird das Bespruchungskollektiv häufig so verschärft, dass es sich deutlich von denen des Realsystems unterscheidet. Dies spiegelt nicht die Mehrheit der Verschleißfälle wieder und differiert stark von realistischen tribologischen Systemen. Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit Untersuchungen von Gleitverschleiß bei metallischen Werkstoffen unter moderaten Bedingungen. Somit können Verschleißprobleme in mikroskopischen Größenordnungen charakterisiert werden. Hierbei werden die Probekörper nicht nur zu einem Endpunkt betrachtet, sondern über eine längere Zeitspanne untersucht.
14:20 Kaffeepause
14:45 „Dicht oder nicht –
Drall auf Dichtungslaufflächen“
Dr.-Ing. Frank Bauer, Leiter Wellendichtungen,
Institut für Maschinenelemente (IMA)
Alle Gehäuse mit Wellendurchtrittsstellen wie zum Beispiel Getriebe oder Motoren müssen abgedichtet werden.
Die Wellenoberflächen der Radialwellendichtsysteme weisen aber oftmals Fehlstellen oder Drall auf. Beide können zu Leckage führen!
Neben den gängigen Messmethoden wie der Fadenmethode, der CARMEN-Methode von Daimler (umlaufender Makrodrall) oder der Förderwertmessung am realen System hat das IMA eine Methode zur Analyse von Mikrodrall entwickelt…
15:15 „Modern Trends in Atomic-Force-Microscopy“
Johannes Kindt, Senior Application Manager Germany,
Bruker Nano GmbH
Investigation of nanomechanical (PeakForce-QNM) & electrical properties (PeakForce-TUNA/PeakForce-KPFM) of materials is of growing interest nowadays. We invite you to get an overview about our latest developments in SPM based material characterisation and their application in electrochemistry, battery, and polymer research, as well as in life science. You will get an insight how fast you can go with a modern AFM in terms of speed, resolution, and productivity.
15:45 Kaffeepause
16:00 Laborführung:
AXS, optische Weißlichtinterferometer,
Atomic-Force-Mikroskope, Tribometer
4 Gruppen á 20 Minuten
19:00 Abendessen auf Selbstkostenbasis
Hoepfner Burghof
Haid-und-Neu-Straße 18
76131 Karlsruhe
Tel.: 0721-622644 oder 0721-6807828-0
Fax 0721-6635066
rezeption@hoepfner-burghof.de
(Unsere Hotelempfehlung für Sie ist ebenfalls der Hoepfner Burghof)Diesmal ist der
IVAM-Stammtisch zu Besuch bei der
Bruker Nano GmbH in Karlsruhe. Lernen Sie am 11. Oktober mit uns das Leistungsportfolio des Unternehmens kennen und knüpfen Sie neue Kontakte mit IVAM-Mitgliedern. Selbstverständlich sind auch Interessierte willkommen, die noch keine IVAM-Mitglieder sind – lernen Sie die Vorteile kennen, die mit einer
IVAM-Mitgliedschaft verbunden sind!
12:45 „Meet & greet“
13:00 Grußworte
IVAM Fachverband für Mikrotechnik & Bruker Nano GmbH
Inga Goltermann, IVAM Fachverband für Mikrotechnik
Thomas Klein, Bruker Nano GmbH
13:20 „Berührungslos messen -
Optische 3D-Profilometrie für die Mikrotechnik“
Udo Volz, Senior Metrology-Application Manager Germany,
Bruker Nano GmbH
Mit der berührungslosen, dreidimensionalen Weißlicht-Interferometrie lassen sich Topographie und Rauheit von Oberflächen messen und deren Form quantitativ beurteilen. Diese schnelle, hochpräzise Messmethode eignet sich besonders für die Entwicklung und Qualitäts sicherung in der Mikrotechnik. Ihr Anwendungsspektrum umfaßt viele Aspekte der Mikromechanik, Mikrosensorik, Mikrooptik und Mikrofluidik.
13:50 „Nanoverschleiß -
Gleitverschleißbetrachtung bei realitätsnahen Verschleißraten
auf mikroskopischer Ebene zur Abschätzung der
Lebensdauer“
Markus Grebe, Laborbetriebsleiter,
Kompetenz Zentrum Tribologie der Hochschule Mannheim
Bei Reibungs- und Verschleißuntersuchungen werden meist Kurzzeittests Angestrebt. Um messbare Verschleißraten zu erzeugen, wird das Bespruchungskollektiv häufig so verschärft, dass es sich deutlich von denen des Realsystems unterscheidet. Dies spiegelt nicht die Mehrheit der Verschleißfälle wieder und differiert stark von realistischen tribologischen Systemen. Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit Untersuchungen von Gleitverschleiß bei metallischen Werkstoffen unter moderaten Bedingungen. Somit können Verschleißprobleme in mikroskopischen Größenordnungen charakterisiert werden. Hierbei werden die Probekörper nicht nur zu einem Endpunkt betrachtet, sondern über eine längere Zeitspanne untersucht.
14:20 Kaffeepause
14:45 „Dicht oder nicht –
Drall auf Dichtungslaufflächen“
Dr.-Ing. Frank Bauer, Leiter Wellendichtungen,
Institut für Maschinenelemente (IMA)
Alle Gehäuse mit Wellendurchtrittsstellen wie zum Beispiel Getriebe oder Motoren müssen abgedichtet werden.
Die Wellenoberflächen der Radialwellendichtsysteme weisen aber oftmals Fehlstellen oder Drall auf. Beide können zu Leckage führen!
Neben den gängigen Messmethoden wie der Fadenmethode, der CARMEN-Methode von Daimler (umlaufender Makrodrall) oder der Förderwertmessung am realen System hat das IMA eine Methode zur Analyse von Mikrodrall entwickelt…
15:15 „Modern Trends in Atomic-Force-Microscopy“
Johannes Kindt, Senior Application Manager Germany,
Bruker Nano GmbH
Investigation of nanomechanical (PeakForce-QNM) & electrical properties (PeakForce-TUNA/PeakForce-KPFM) of materials is of growing interest nowadays. We invite you to get an overview about our latest developments in SPM based material characterisation and their application in electrochemistry, battery, and polymer research, as well as in life science. You will get an insight how fast you can go with a modern AFM in terms of speed, resolution, and productivity.
15:45 Kaffeepause
16:00 Laborführung:
AXS, optische Weißlichtinterferometer,
Atomic-Force-Mikroskope, Tribometer
4 Gruppen á 20 Minuten
19:00 Abendessen auf Selbstkostenbasis
Hoepfner Burghof
Haid-und-Neu-Straße 18
76131 Karlsruhe
Tel.: 0721-622644 oder 0721-6807828-0
Fax 0721-6635066
rezeption@hoepfner-burghof.de
(Unsere Hotelempfehlung für Sie ist ebenfalls der Hoepfner Burghof)
